Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ФИЦ ПХФ и МХ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Компьютерный анализ топологии поверхности кремния, имплантированного ионами цинка и окисленного при повышенных температурах
доклад на конференции
Авторы:
Соколов В.Н.
,
Ксенич C.В.
,
Привезенцев В.В.
,
Разгулина О.В.
Всероссийская с международным участием Конференция :
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии и в рамках Конференции 4-я Школа молодых учёных «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов
Даты проведения конференции:
30 мая - 3 июня 2016
Дата доклада:
2 июня 2016
Тип доклада:
Стендовый
Докладчик:
не указан
не указан
Соколов В.Н.
Ксенич C.В.
Привезенцев В.В.
Разгулина О.В.
Место проведения:
г. Москва, Зеленоград, ул. Юности, дом 8 , Russia
Добавил в систему:
Соколов Вячеслав Николаевич