|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ФИЦ ПХФ и МХ РАН |
||
Рентгенодиффракционные исследования эпитаксиальных пленок и многослойных структур сверхпроводниковой электроникидиссертация
- Научные руководители: Куприянов М.Ю., Ковьев Э.К.
- Автор: Поляков Сергей Николаевич
- Год защиты: 1998
- Шифр диссертационного совета: К 053.05.19
- Организация: Московский Государственный Университет им. М.В.Ломоносова
- Область знаний: Физика и математика
- Специальность: 01.04.07 - Физика конденсированного состояния
- Тип диссертации: Кандидатская
- Добавил в систему: Куприянов Михаил Юрьевич