ИСТИНА

Изобретение относится к медицине, а именно к гематологии, и может быть использовано для выявления патологических изменений в структурных элементах мембран эритроцитов (МЭ). Для этого с помощью атомного силового микроскопа получают изображение поверхности МЭ и раскладывают его на изображения поверхностей трех масштабов П1, П2, П3. При этом масштаб П1 соответствует параметрам фликкеринга МЭ. Масштаб П2 соответствует параметрам спектринового матрикса МЭ. И масштаб П3 соответствует параметрам белковых кластеров МЭ. Измеряют высоты выявленных топологических наноструктур, их средние значения и их средние квадратичные отклонения. Затем определяют вероятность отклонения величин высот наноструктур Р1, Р2, Р3 от нормальных значений в контроле. При этом отклонение величины P1 более 30% для П1 свидетельствует об отклонении величины амплитуды фликкеринга. Величина Р2 более 30% для П2 свидетельствует об отклонении физических характеристик спектринового матрикса. Величина Р3 более 30% для П3 свидетельствует о возникновении кластеризации интермембранных белков. Изобретение позволяет количественно оценить степень влияния патологического фактора на состояние мембран эритроцитов. 2 табл., 11 ил.