Выберите категорию обращения:
Общие вопросы
Отчеты
Рейтинги
Мониторинговый отчёт
Диссертационные советы
Конкурсы
Ввод данных
Структура организаций
Аспирантура
Научное оборудование
Импорт педагогической нагрузки
Журналы и импакт-факторы
Тема обращения:
Описание проблемы:
Введите почтовый адрес:
ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
ИСТИНА ФИЦ ПХФ и МХ РАН
Главная
Поиск
Статистика
О проекте
Помощь
Компьютерный анализ топологии поверхности кремния, имплантированного ионами цинка и окисленного при повышенных температурах
тезисы доклада
Авторы:
Соколов В.Н.
,
Разгулина О.В.
,
Привезенцев В.В.
, Ксенич C.В.
Сборник:
XXVI Российская конференция по электронной микроскопии. 30 мая – 3 июня 2016г. г. Москва Зеленоград. Тезисы докладов
Тезисы
Год издания:
2016
Место издания:
ИПТМ РАН г. Москва Зеленоград
Первая страница:
554
Последняя страница:
555
Добавил в систему:
Соколов Вячеслав Николаевич