|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ФИЦ ПХФ и МХ РАН |
||
Дифракционное изображение дефектов в рентгеновской топографии (рентгеновской микроскопии) УФН, 2015, 185, 9, 1-19статья
Статья опубликована в журнале из списка RSCI Web of Science
Статья опубликована в журнале из перечня ВАКСтатья опубликована в журнале из списка Web of Science и/или Scopus
Дата последнего поиска статьи во внешних источниках: 11 апреля 2017 г.
- Авторы: Суворов Э.В., Смирнова И.А.
- Журнал: Успехи физических наук
- Том: 185
- Номер: 9
- Год издания: 2015
- Издательство: ФГБУ "Издательство "Наука"
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 1
- Последняя страница: 19
- Аннотация: Рассмотрены вопросы образования и структуры рентгеновского дифракционного изображения дефектов кристаллической решетки в методах рентгеновской топографии. Проанализированы подходы описания (лучевая и волновая оптика) и области применения геометрической и дифракционной оптики реального кристалла. На примерах конкретных экспериментальных изображений дислокаций и других дефектов продемонстрирована роль различных дифракционных эффектов (отражение волн от искажений кристаллической решетки, дифракционная фокусировка, каналирование), влияющих на характер формируемого изображения. Обсуждаются возможности получения количественной информации о параметрах дефектов.
- Добавил в систему: Суворов Эрнест Витальевич