|
ИСТИНА |
Войти в систему Регистрация |
ИСТИНА ФИЦ ПХФ и МХ РАН |
||
Исследование поверхности SnS (100) методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и зондовой микроскопиистатья
- Авторы: Яшина Л.В., Волыхов А.А., Васильев С.Ю., Семененко Д.А., Иткис Д.М., Елисеев А.А., Харламова М.В., Вербицкий Н.И., Зюбина Т.С., Белогорохов А.И.
- Журнал: Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники
- Номер: 4
- Год издания: 2009
- Издательство: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС»
- Местоположение издательства: Москва
- Первая страница: 50
- Последняя страница: 55
- Добавил в систему: Волыхов Андрей Александрович