–
Статьи в сборниках
-
- 2018 In Situ Characterization of XFEL Beam Intensity Distribution and Focusability by High-Resolution LiF Crystal Detector
- Pikuz T., Faenov A., Matsuoka T., Albertazzi B., Ozaki N., Hartely N., Muray Ricardo Arturo O., Yabuuchi T., Habara H., Matsuyama S., Yamauchi K., Inubushi Y., Togashi T., Yumoto H., Tange Y., Tono K., Sato Y., Yabashi M., Nishikino M., Kawachi T., Mitrofanov A., Bleiner D., Grum-Grzhimailo A., Rosanov N.N., Vysotina N.V., Harmand M., Koenig M., Tanaka K.A., Ishikawa T., Kodama R.
- в сборнике X-Ray Lasers 2016, серия Springer Proceedings in Physics, место издания Springer International Publishing, том 202, с. 109-115 DOI