Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Schmitz D.
Schmitz D.
IstinaResearcherID (IRID): 201974852
–

Статьи в журналах

    • 2020 Sensing alterations of the local environment of 3d, 4d, and 4f central ions in polyoxopalladates with soft x-ray magnetic dichroisms
    • Schmitz-Antoniak C., Izarova N.V., Stuckart M., Smekhova A., Schmitz D., Shams S.F., Siemensmeyer K., Giesen M., Koegerler P.
    • в журнале Journal of Magnetism and Magnetic Materials, издательство Elsevier BV (Netherlands) DOI
    • 2019 Soft X-Ray Magnetic Circular Dichroism of Vanadium in the Metal–Insulator Two-Phase Region of Paramagnetic V 2 O 3 Doped with 1.1% Chromium
    • Schmitz Detlef, Schmitz-Antoniak Carolin, Radu Florin, Ryll Hanjo, Luo Chen, Bhandary Sumanta, Biermann Silke, Siemensmeyer Konrad, Wende Heiko, Ivanov Sergey, Eriksson Olle
    • в журнале Physica Status Solidi (B): Basic Research, издательство John Wiley & Sons Ltd. (United Kingdom), с. 1900456-1-1900456-7
    • 2019 Polyoxopalladates as prototype molecular hydrogen uptake systems and novel in situ hydrogen detectors at the nanoscale
    • Schmitz-Antoniak C., Izarova N.V., Svechkina N., Smekhova A., Stuckart M., Schmitz D., Kögerler P.
    • в журнале European Journal of Inorganic Chemistry, издательство John Wiley & Sons Ltd. (United Kingdom), том 2019, с. 448-455 DOI

ИСТИНА ФИЦ ПХФ и МХ РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь