Создать обращение в службу поддержки пользователей
Обращение успешно создано! Ему присвоен номер 0.
На адрес Вашей электронной почты отправлено письмо о регистрации обращения. Вы можете ответить на него, если хотите предоставить дополнительную информацию или прикрепить файлы.
Произошла ошибка при создании обращения. Попробуйте перезагрузить страницу и заново создать обращение.

Подтверждение выхода

Вы действительно хотите завершить сессию?
ИСТИНА ИСТИНА
Войти в систему
Регистрация
  • Область интересов
  • Публикации
  • НИР и НИОКР
  • Доклады
  • Учебная работа
  • Инновации
  • Прочее
  • Все результаты
Удаление сотрудника
Вы действительно хотите удалить сотрудника?
Удалить
Dolbak A.E.
Dolbak A.E.
IstinaResearcherID (IRID): 418525094
–

Статьи в журналах

    • 2021 Charge Transport Mechanism and Trap Origin in Methyl-Terminated Organosilicate Glass Low-κ Dielectrics
    • Perevalov T.V., Gismatulin A.A., Dolbak A.E., Gritsenko V.A., Trofimova E.S., Pustovarov V.A., Seregin D.S., Vorotilov K.A., Baklanov M.R.
    • в журнале Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science, издательство Wiley - V C H Verlag GmbbH & Co. (Germany), том 218, № 4 DOI

ИСТИНА ФИЦ ПХФ и МХ РАН
© 2011-2025 Лаборатория 404. НИИ механики МГУ.
Правила пользования
Помощь
Создать обращение Обратная связь